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差热分析仪

简要描述:差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述差热分析仪是在程序控温下测量样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。

  • 产品型号:DTA3320A
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-07-03
  • 访  问  量:638
详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
仪器种类其他精密度0.01μV%
工作电压220V应用领域医疗卫生,生物产业,能源,综合

 DTA3320A差热分析仪

 产品介绍:

DTA3320A差热分析仪是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。

 

仪器特点:

1.仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器,运算处理速度更快,温度控制更J确。

2.采用USB双向通讯,操作更便捷。

3.采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,界面更友好。

4.采用镍铬合金传感器,更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。

 

技术参数: 

1. 温度范围: 室温~1150℃  

2. 量程范围: 0~±2000μV   

3. DTA精度: 0.01μV  

4. 升温速率: 1~80℃/min  

5. 温度分辨率: 0.1℃  

6. 温度准确度: ±0.1℃  

7. 温度重复性: ±0.1℃   

8. 温度控制: 升温:程序控制  可根据需要进行参数的调整

           恒温:程序控制  恒温时间任意设定

9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作

10.气氛控制: 内部程序自动切换

11.数据接口: 标准USB接口  配套数据线和操作软件

12.显示方式: 24bit色 7寸 LCD触摸屏显示

13.参数标准: 配有标准物,带有一键校准功能,用户可自行对温度进行校正

14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线

15.工作电源: AC 220V  50Hz

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