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DZ3332DTA差热分析仪

DTA差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度（△T）随温度或时间的变化关系。

时间：2023-07-03型号：DZ3332厂商性质：生产厂家浏览量：1317
ZQ3320CDTA高温差热分析仪

DTA高温差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

时间：2023-07-04型号：ZQ3320C厂商性质：生产厂家浏览量：784
DSC-1450DTA高温差热分析仪

DTA高温差热分析仪：该差示扫描量热仪为触摸屏式，可进行玻璃化转变温度测试、相转变测试、熔融和热焓值测试、产品稳定性、氧化诱导期测试。

时间：2023-07-04型号：DSC-1450厂商性质：生产厂家浏览量：1225
DTA 差热分析天平

DTA 差热分析天平：在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

时间：2023-07-04型号：厂商性质：生产厂家浏览量：937
DZ3320A差热分析仪价格

差热分析仪价格在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

时间：2023-07-04型号：DZ3320A厂商性质：生产厂家浏览量：856

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